Zuverlässigkeitsgetriebener Entwurf

Aus dem Übergang der Strukturgrößen der Chiptechnologien in den Nanometerbereich ergeben sich neue Aufgaben für die Entwurfsautomatisierung. Um innovative Eingebettete Systeme weiterhin zuverlässig zu gestalten und trotzdem die modernen Chip-Fertigungstechnologien nutzen zu können, sind neben der Bewältigung der Komplexität neue Herausforderungen im Entwurf zu adressieren. Dabei zeigt sich der Nachweis der Robustheit eines eingebetteten Systems als eine der größten künftigen Herausforderungen, die umso wichtiger wird, je mehr sicherheitskritische, Eingebettete Systeme aktiv in die menschliche Umgebung eingreifen. Robustheit ist deshalb Gegenstand fortlaufender Forschungsaktivitäten (BMBF-Projekte AIS und ROBUST). Die Lösung der Probleme erfordert einen eng verzahnten Entwurfsprozess entlang der gesamten Entwicklungskette. Die Herausforderungen liegen dabei in der frühzeitigen Durchführung aussagekräftiger Stresstests anhand eindeutig definierter Anforderungsprofile der Herstellerseite. Diese sollen künftig bereits am virtuellen Prototyp, und nicht wie bislang erst am Endprodukt möglich werden. Ziel ist es, in Zukunft Lebenszeit- und Robustheitsanalysen unter
Berücksichtigung aller Zuliefererkomponenten durchführen zu können (BMBF-Projekte ResCar, SANITAS). 

Weitere Informationen zu den bearbeiteten Projekten sind unter Projektübersicht Systementwurf in der Mikroelektronik zu finden.